高低溫老化測(cè)試箱

　　艾思荔生產(chǎn)高低溫老化測(cè)試箱采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開(kāi)門瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。滿足GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備、GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

　　高低溫老化測(cè)試箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

　　GB/T2423.1-2001試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

　　GB/T2423.2-2001試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

　　GB/T2423.3-1993試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)

　　GB10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB10589-2006低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB10592-2006高低溫老化測(cè)試箱技術(shù)條件

　　GB11158-2006高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　高低溫老化測(cè)試箱溫濕度范圍：

　　溫度范圍: A:-20℃～150℃ B:-40℃～150℃ C:-60℃～150℃ D:-70℃～150℃

　　溫度波動(dòng)度: ±0.5℃(常壓，空載)

　　溫度均勻度: ±2℃(常壓，空載)

　　溫度偏差: ±3℃(常壓，空載)

　　升溫速率: 1.0～3.0℃/min

　　降溫速率: 0.7～1.0℃/min

　　壓力范圍: 常壓～0.5kPa

　　壓力偏差: 常壓～40Kp：±1.8Kpa;40Kp～4Kpa：±4.5%;4Kp～0.5KPa：±0.1Kpa

　　降壓時(shí)間: ≤45min(常壓～0.5kPa)

　　高低溫老化測(cè)試箱技術(shù)參數(shù)

　　1、溫度范圍：(0℃、-20℃、-40℃、-70℃)～+150℃

　　2、濕度范圍：30～98%RH

　　3、溫度均勻度≤±2.0℃

　　4、溫度波動(dòng)度≤±0.5℃

　　5、濕度波動(dòng):+2-3%RH

　　6、降溫速率：0.7℃～1℃(空載狀態(tài)下)

　　7、升溫速率：1～3℃(空載狀態(tài)下)

　　高低溫老化測(cè)試箱循環(huán)系統(tǒng)

　　1.制冷機(jī)采用法國(guó)原裝“泰康"全封閉壓縮機(jī)。

　　2.冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。

　　3.升溫、降溫、系統(tǒng)*獨(dú)立可提高效率，降低測(cè)試成本，增長(zhǎng)壽命，減低故障率。

　　高低溫老化測(cè)試箱設(shè)備用途：

　　艾思荔高低溫老化測(cè)試箱又名電路板高低溫試驗(yàn)箱，用于儀器儀表、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、航天產(chǎn)品及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在高溫、低溫、濕熱的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性。電路板高低溫試驗(yàn)箱主要用于對(duì)產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在高溫、低溫、濕熱、條件下對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用